IC解密案例:熔点测试仪

IC解密案例:熔点测试仪

  熔点测试仪是智联科技成功进行抄板及IC解密案例之一。
  熔点测量仪主要技术指标:
  1.熔点测试范围:室温至280oC
  2.升温速率:0.5oC/min 1oC/min 1.5oC/min 3.0oC/min四档
  3.线性升温速率偏差: < 10%
  4.熔点测试精度:小于200oC时允差±0.5oC   大于200oC时允差±1.0oC
  5.温度快速升温预置范围:室温至270oC范围内任意预置
  6.传温液杯:250ml高型烧杯
  7.传温介质:甲基硅油
  8.示值分辨率:0.1 oC
  9.使用环境温度:15oC-30oC
  10.电源:AC220V±10% 频率50Hz 功率200W
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