高速LED检测系统PCB抄板及克隆技术解析

高速LED检测系统PCB抄板及克隆技术解析

  该款高速LED检测系统是智联科技PCB抄板芯片解密中心反向研发的,为符合测量精确及LED生产高速测试需求,整合了先锋科技研发的MegaLED-SGM CCD摄谱仪及高速的MegaLED-3000系列LED电性分析仪, MEGA LED TESTER可用来测试所有LED相关之光学与电性参数。
  在生产过程中快速测量LED参数对于仪器是项特别的挑战,因为符合CIE的测量标准时,出光效率非常低;在这同时,确保生产设备可以有效益生产的运转,高速的测量时间是必要的,多项的LED的光学与电性参数测试均涵盖其中,不同封装的LED适用范围也必须由小的SMT设计以至于高功率的LED。
  Spectral radiant flux ( W/nm ):绝对光谱
  Peak wavelength (λp) : 最高波长
  Dominant wavelength (Hue;λd ): 色域波长
  Center wavelength (λc): 中心波长
  Excitation Purity (Chroma;%): 色纯度
  Chromaticity Coordinates (x,y @1931):色坐标
  C.C.T. (correlated color temperature)  : 色温
  C.R.I. (color rendering index ) : 演色指数
  该系统确保了主要的测量参数最高精确度及再现性,如LED主波长及的色坐标等,在传统高速的电性测量速度下,对MegaLED-SGM100测量速度要求加快许多。如图所示,其清楚的描述客户确实可以减少电子测量的时间,尤其是搭配LED分选机高速的测试需求。
  新的可调式使用者接口组态与扩充的数组功能合并,以符合所有分BIN的要求。新的装置特征系依据统计分析及整体性考虑,也是针对白光晶圆与Lamp LED分选设备,都搭配了专用探测模块。
  智联科技是一家专注于PCB抄板,IC芯片解密,电路板克隆,样机制作及批量代工等服务,几十年来为无数的客户解决了技术上的困扰,深得好评。

微信扫描二维码咨询